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Title: High resolution imaging using nanoparticle based probesAuthor: Scarpettini, Alberto / Bragas, AndreaLanguage: InglésRepository: 54Subject: UTN / FRD / Plasmonic substrates / metallic nanostructures
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Title: Nanorod-based plasmonic substrates with predefined optical resonancesAuthor: Scarpettini, Alberto / Gutierrez, MarinaLanguage: InglésRepository: 54Subject: UTN / FRD / Plasmonic substrates / metallic nanostructures
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Title: Cabezal óptico compacto aplicado a la medición de vibraciones sin contactoAuthor: Aguilar, Andres / Morel, Eneas / Torga, JorgeLanguage: EspañolRepository: 54Subject: UTN / FRD / Vibraciones / sistema óptico / ensayo no destructivo / láser / medición sin contacto
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Title: Application of a long-rangesweptsource optical coherence tomography-based scheme for dimensional characterization of multilayer transparent objectsAuthor: Morel, Eneas / Russo, Nélida A. / Torga, Jorge / Duchowicz, A.N.Language: InglésRepository: 54Subject: UTN / FRD / Optical coherence tomography / Fiber-optic laser / OCT systems
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Title: Simple method for thickness measurement in opaque samples with a Michelson-Sagnac interferometerAuthor: Morel, Eneas / Torga, JorgeLanguage: InglésRepository: 54Subject: UTN / FRD / Coherence Interferometry / Michelson-Sagnac configuration
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Title: Diseño y construcción de un sistema electromagnético para inducir vibraciones forzadasAuthor: Carrizo, Marcos / Raffo, Javier LeandroLanguage: EspañolRepository: 54Subject: UTN / FRD / Vibraciones Forzadas / Electroimán / Shaker electromagnético
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Title: Characterization of reference standards for dirt by Laser Ablation Induced Photoacoustics (LAIP)Author: Orzi, D.J.O / Morel, Eneas / Torga, Jorge / Ravigioni, A.N. / Bilmes, G.MLanguage: InglésRepository: 54Subject: UTN / FRD / Laser Ablation / Photoacoustics
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Title: Spectral sensor resolution measurement improvements by temporal analysisAuthor: Antonacci, Julian / Morel, Eneas / Torga, Jorge / Duchowicz, Ricardo / Arenas, Gustavo F.Language: InglésRepository: 54Subject: UTN / FRD / Optical interferometry / Silicon / Spectral analysis / Detectors / Discrete Fourier transforms / Time-domain analysis / Optical fibers
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